手机中试整机检测程序书_手机检测作业指导书

2020-02-27 其他范文下载本文

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2.1测试项目

2.1.1电性能测试5

2.1.2ESD测试5

2.1.3软件功能测试5

2.1.4环境测试5

2.1.5寿命测试5

2.1.6机械强度测试5

2.1.7其它测试5

3测试标准

3.1电性能测试标准

3.2功能/软件测试

3.3ESD静电测试

3.4环境测试

3.5寿命测试

3.6机械强度测试

3.7其它测试

2.1测试项目

2.1.1电性能测试

根据待测手机的机型，选择选择相应标准，测试手机的各项电性能指标；

2.1.2ESD测试

测试手机在静电环境中的性能；

2.1.3软件功能测试

测试用户手册规定的各项功能，以及模拟软件的极端使用条件，测试软件的性能；

2.1.4环境测试

模拟手机使用的各种恶劣环境，测试其性能是否达到要求；主要包括温度冲击、高、低温、湿热、盐雾等测试。

2.1.5寿命测试

测试各易损部件的工作寿命是否达到规格要求；主要包括背光、马达、电池、振铃、按键测

试；

2.1.6机械强度测试

测试手机机械结构的强度以及关键部件的器抗磨损性；主要包含振动测试、跌落测试、冲击测试、翻盖强度及耐磨测试等。

2.1.7其它测试

主要包括：铃声测试、时钟维持测试、最长待机时间、最长通话时间、待机电流及电池与旅充通配测试。

3测试标准

3.1电性能测试标准

根据待测手机的机型，选择«GSM 中试测试程序书»、«GPRS 中试测试程序书»或«CDMA中试测试程序书»作为标准，来测试手机的电性能。并作好相关记录。

3.2功能/软件测试

根据用户手册的内容，详细测试手机的各项功能；以及人为使手机软件的负荷最大化（如使电话本、短消息信箱全部填满，闹钟全部设置等），然后测试软件的性能是否达到要求。具体测试流程及规范参见《手机软件测试规程》。

3.3ESD静电测试

手机在充电和通话状态时，进行接触放电和空气放电测试，其中：

1.接触放电为±4KV,对导电装饰圈、装饰牌不同的位置连续放电各10次后对地放电,要求：通话不中断，屏幕不闪烁，应无黑屏，黑条等；

2.空气放电±8KV，对翻盖底壳/面壳、大小LCD四周、受话器、主机按键及主机底壳等处连续放电10次以上，检查LCD显示和通话状况应良好。

完成后要作好记录，即填写附件

1、附件

2、附件

3、附件4。

3.4环境测试

1高温储存试验T=60±2°C，试验时间24小时，回温2H后检测。10试验中手机带电池处于断电状态

2高温工作试验T=55±2°C，试验时间8小时。10试验中手机处于待机状态，试验持续时间到后，立即进行功能测试(55° C)。

3低温储存试验T=-20±2°C，试验时间24小时。10试验中手机带电池处于断电状态4低温工作试验T=-10±2°C，试验时间2小时。10试验中手机处于待机状态，试验持续时间到后，立即进行功能测试(-10° CC)。

5恒定湿热试验T=40±2°C，RH=95%±3，试验时间48小时。时间到后立即进行功能测试。10试验中手机处于待机状态，且手机翻盖处于打开状态(使大LCD也处于工作状态)，6湿热循环试验箱温以不大于1C/MIN速度变到4 0°C，RH:95%，保持1H；再以不大于1C/MIN速度变到-10°C，保持1H；循环20回。循环期满，回温2H。10试验中手机处于待机状态

7盐雾试验用氯化钠含量为5±1%的盐溶液；温度在35°C时，喷雾后的收集液，PH值为

6.5~7.2。允许用稀释后的化学纯盐酸或氢氧化钠调整PH值。试验有效空间温度为35°C；连续喷雾的试验时间为24H；持续期满后在箱内恢复到正常大气条件，稳定后保持2H。2试验中手机处于关机状态，手机拿出来后用纯净水将其壳表面擦拭干净，并放入55°C高温箱中0.5H烘干后测试。

8温度冲击试验T=+70/-40±5°C，高温和低温各保持2小时，循环次数12次，时间满后回

温 2H10试验中手机处于机头状态(即不带电池)

3.5寿命测试

序号测试项目测试条件/标准数量注意事项相关作业指导书备注

1机械按键寿命试验以50~60次/分钟的速度，3.5N的力度均匀按键，应能达到10万次以上，每2 万次检查1次。2

2人手按键对手机用人手按键，每部手机按键20000次，按键结束后，功能应正常。每个键轮流按一遍为一次。10

3电池/SIM插拔试验插入SIM卡再装上电池，然后取下电池拔出SIM卡，累计5000次以上。5

4耳机插拔试验将耳机垂直插入耳机孔后，再垂直拔出，如此反复，累计5000次以上。55I/O口插拔试验插入充电器再拔下，累计5000次以上。5手机处于待机状态

6翻盖寿命试验以25~30次/分钟的速度翻动翻盖，来回为1次，要求翻盖达到最大转动位置。每2小时检查1次。要求翻盖最少测试6万次。10手机处于待机状态

7EL背光寿命试验将试验样机设置成EL背光常亮状态，试验时间不少于48小时，58LED指示灯寿命试验将试验样机设置成指示灯常亮状态，试验时间不少于120小时，5

9振铃寿命试验将试验样机设置成长时间振铃状态，试验时间不少于72小时，510受话器寿命试验用声源对准每个试验手机进行音频环回，检验受话器寿命，试验时间不少于72小时5

11马达振动寿命将试验样机设置成长时间振动状态，试验时间不少于72H，512耳塞拉拔试验1.5kg静拉力，拉伸1分钟，正常拉拔2000次，耳塞应完好。5

3.6机械强度测试

1自由跌落试验1m高度，初速度为0自由跌落于光滑混凝土地面，每面跌落2次，7个面共计14次（第7 面为翻盖打开面）10手机处于待机状态，无翻盖手机共12次。每跌落一次，对实验品进行功能检查。

2重复跌落试验从30cm高度，初速度为0自由跌落于2cm厚度的光滑密质台面，每面跌落100次，每次间隔2s，7面共计700次，每隔20次，对实验品功能检查2手机处于通电/通话状态，无翻盖手机共 600次。

3随机振动试验参数：频率范围5~20Hz，功率频谱密度0.96m2/S3；频率范围 20~500Hz，功率频谱密度0.96m2/S3（20Hz），其它-3dB/oct。轴向：三个轴向。持续时间：每方向1小时，共三小时。10手机处于待机状态

4人手拍翻盖测试在开机的状态下，以15次/分的速度手拍翻盖，实验次数3000次，检查有无掉电、掉网、死机等现象，电池有无失去电压或扣位松动等显现。10

5螺旋式天线强度试验以12Ncm力装配10次。每次装配到位后，用2kg力的力拉天线，应无松动、脱落等现象。5

6伸缩式天线强度试验以5kg力将天线头部沿垂直力方向拉伸1秒以上，12次/分钟，10次。5

7视窗平压试验橡胶块直径8mm，压力速度1.2mm/min，垂直方向以5kg力平压视窗3次，每次持续5秒，主、子屏要显示正常。10

8正面平压试验以接触面积为整面，方向垂直的25kg力正面平压手机各面（除I/O面和天线面），持续 10秒，平压3次，应无异常。10

3.7其它测试

1铃声测试将手机放在距手持分贝仪30CM处，检测手机铃声大小，应大于75DB。102时钟维持测试1．手机充满电后，开机24H，检查手机走时是否准确。2．手机充满电

后，取下电池，24H后检查手机走是是否准确。10

3最长待机时间手机充满电后，插上SIM卡，测量其最长待机时间。10

4最长通话时间手机充满电后，让其连续与测试台通话，直到手机电池缺电。测量最长通话时间。5同时注意是否有其他异常现象。

5待机电流用万用表测量手机待机时的电流10

6电池与旅充通配测试旅充与各厂家的电池配合做长时间充电实验，检查手机充电显示有无异常，电池电量能否充足。10实验手机一半处于插卡开机状态，一半处于关机状态；且分带卡和不带卡两种。

4附件

附表1： JCT手机模拟静电测试记录表（1/4）

附表2： JCT手机模拟静电测试记录表（2/4）

附表3： JCT手机模拟静电测试记录表（3/4）

附表4： JCT手机模拟静电测试记录表（4/4）

附表5： JCT 1M自由跌落试验测试记录表

附表6： JCT 30CM自由跌落试验测试记录表

附表7：相关记录

附表一

JCT手机ESD测试记录表（1/4）

项目空气放电（带充电器测试）温度 25℃

标准+8KV

位置大LCD小LCD受话器按键、主底

状态通话待机通话待机通话待机

标准-8KV

位置大LCD小LCD受话器按键、主底

状态通话待机通话待机通话待机

附表2：

JCT手机ESD测试记录表（2/4）

项目空气放电（不带充电器测试）温度 25℃

标准+8KV

位置大LCD小LCD受话器按键、主底

状态待机通话待机通话待机通话

标准-8KV

位置大LCD小LCD受话器按键、主底

状态通话待机通话待机待机通话

附表3：

JCT手机ESD测试记录表（3/4）

项目接触放电（不带充电器测试）温度 25℃

标准+4KV

位置U型装饰圈装饰牌铭牌

编号通话待机通话待机通话待机

标准-4KV

位置U型装饰圈装饰牌铭牌

编号通话待机通话待机通话待机

附表4：

JCT手机ESD测试记录表（4/4）

项目接触放电（带充电器测试）温度 25℃

标准+4KV

位置U型装饰圈装饰牌铭牌

状态通话待机通话待机通话待机

标准-4KV

位置U型装饰圈装饰牌铭牌

状态通话待机通话待机通话待机

附表5：

JCT 1M自由跌落试验测试记录表

机型：测试条件：从 1M高度自由跌落在水泥地板上，跌落6或7个面，每个面2次，每跌落一次，对实验品进行功能检查。

面数编号编号编号编号编号编号

第一次第二次第一次第二次第一次第二次第一次第二次第一次第二次第一次第二次

I/O面

天线面

左侧面

右侧面

底面

翻盖面

翻盖打开面

功能不合格项详细说明

附表6：

JCT 30CM重复跌落试验测试记录表

机型测试条件：从 30以Cm高度自由跌落至光滑密质台面，跌落6或7个面，每个面100次，每20次进行一次功能检测。

编号编号：编号：

1-202-203-204-205-20备注1-202-203-204-205-20备注

I/O面

天线面

左侧面

右侧面

底面

翻盖面

翻盖打开面

功能不合格项详细说明

附表7：