ICT测试盲点原因分析_ict测试盲点原因分析

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ICT测试盲点原因分析

1． 探针不可及的零件。

2． 小电容并联大电容（C1//C2），小电容不可测。一般而言，C2的容值是C1的10倍以上，C1不可测。

3． 大电阻并联小电阻（R1//R2），大电阻不测。一般而言，如何R1的容值是R2的20倍以上，则R1不可测。两电阻并联后，其阻值比小电阻略小，这是大电阻缺件不可测。同理，与跳线并联的电阻也不可测。

4． 小电阻过小，无法准确测试。虑及探针接触电阻，排线连接器等电阻的影响，故上限要放宽。

5． 同一铜箔上的跳线以及相并联的跳线漏件不可测。

6． 大电阻并联大电容，大电阻无法准确测试。要考虑两个影响因素，一个是电容的充电时间较长，要等显示值稳定之后读数，另外，假若电阻的阻值较大，则电容的漏电电阻不能忽略，测定的阻值可能比电阻的实际阻值小。实际调试时才能判断是否可测。7． 小电容并联小电阻，小电容不可测。

8． 电感并联电阻或电容及其它元件，电阻或其它元件不可测 9． 二极体同向并联，其中一个漏件或空焊不可测 10． 小电阻并联元件所并联的元件不可测 11． 电容容值过小，一般不准确测试 12． IC内部性能、晶振、可调电阻（VR）、热敏电阻，突波吸收器等一些元件本身特性原因不可测或无法准确测试 13． 二极体、晶体管并联大电容，二极体、晶体管不可测 14． 元件的高低点同在一个短路群，其元件不可测 15． IC空焊测试时,如果被测IC有接脚有电容并联,则此接脚开路无法测试.16． 电阻与跳线并联时,电阻不可测.17． 电感（或变压器、继电器）与跳线并联不可测。18． 电感错件为跳线或被短路无法测试。