_计算机组成原理实验2_计算机组成原理实验二
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计算机组成原理实验日志
实验题目:
进位、移位控制实验
实验目的:
(1)了解带进位控制的运算器的组成结构;(2)验证带进位控制的运算器的功能。(3)了解移位发生器74LS299的功能;(4)验证移位控制电路的组合功能。实验主要步骤:
一、进位
(1)按图1.2-2连接实验电路并检查无误。(2)打开电源开关。
(3)用输入开关向暂存器DR1和DR2置数,方法同前。
(4)关闭数据输入三态门(SW-B=1),打开ALU输出三态门(ALU-B=0),并使LDDR1=0、LDDR2=0,关闭寄存器打入控制门。
(5)对进位标志清零。实验板上“SWITCH UNIT”单元中的CLR开关为标志CY、ZI的清零开关,它为零状态时是清零状态,所以将此开关做1→0→1操作,即可使标志位清零。
注意:进位标志指示灯CY亮时表示进位标志为“0”,无进位;标志指示灯CY灭时表示进位为“1”,有进位。
图1.2-1 带进位运算器通路图
图1.2-2 带进位运算实验接线图
(6)验证带进位运算及进位锁存功能。使Cn=1,AR=0,进行带进位算术运算。例如,做加法运算,使ALU-B=0,S3、S2、S1、S0、M的状态为1、0、0、1、0,此时数据总线上显示的数据为DR1加DR2加当前进位标志的和,但这时的进位状态位还没有打入进位锁存器中,(它是要靠T4节拍来打入的。)这个结果是否有进位产生,则要按动微动开关KK2,若进位标志灯亮,则无进位,反之则有进位。因为做加法运算时数据总线一直显示的数据为DR1+DR2+CY,所以当有进位输入到进位锁存器时,总线显示的数据将为加上当前进位锁存器中锁存的进位的结果。
二、移位
(1)按图1.3-2连接实验电路并检查无误。(2)打开电源开关。(3)向移位寄存器置数。
①拨动输入开关,形成二进制数01101011(或其它数值)。
②使SWITCH UNIT单元中的开关SW-B=0,打开数据输入三态门。③使S0=
1、S1=1,并按动微动开关KK2,则将二进制数01101011置入了移位寄存器。
④使SW-B=1,关闭数据输入三态门。(4)移位运算操作。
①参照表1.3-1中的内容,先将S1、S0置为0、0,检查移位寄存器单元装入的数是否正确,然后通过改变S0、S1、M、299-B的状态,并按动微动开关KK2,观察移位结果。
②根据移位控制电路功能表1.3-1中的内容,分析移位运算的结果是否正确。
图1.3-2 移位运算实验接线图
实验结果: 一.进位
向DR1中置入80H 向DR2中置入 80H CY初始位置为亮 0 加法完成后 CY为灭总线显示01H 二.移位
输入00011000 移位后 00110000 心得体会:
通过本次实验了解了的带进位的加法和移位器的原理。