冶金过程动力学基础(推荐)_冶金过程动力学
冶金过程动力学基础(推荐)由刀豆文库小编整理,希望给你工作、学习、生活带来方便,猜你可能喜欢“冶金过程动力学”。
第十二章 冶金动力学概述
一、热力学的研究对象和局限性
研究化学(冶金)反应的方向,
反应能达到的最大限度,
外界条件对反应平衡的影响。
→ 热力学只能预测反应的可能性。无法预料反应能否发生,
无法确定反应的速率,
无法了解反应的机理。
热力学只能判断:这三个反应都能发生。
热力学无法回答:如何使它发生?
二、动力学的研究对象
化学(冶金)反应的速率
化学(冶金)反应的机理(历程)
温度、压力、催化剂、溶剂及其它外界因素对反应速率的影响
→ 热力学的反应可能性变为现实性。
H2(g)+ 1/2O2(g)= H2O(l)点火,加温或催化剂
C + O2 = CO2(g)点火,加温
三、动力学的分类
宏观(唯象)动力学
研究各种宏观因素(如T, P, C, 催化剂等)对反应速率的影响 微观(分子)动力学
研究反应机理和结构与反应性能间的关系 介观动力学
四、冶金反应的类型
均相反应
参与反应的各物质均处于同一个相内进行化学反应。非均相反应
参与反应的各物质处于不同的相内进行化学反应。
五、反应速率(定容反应速率)
六、反应阻力
冶金反应通常由一系列步骤组成。
每一步骤都有一定的阻力。
对于传质步骤,传质系数的倒数1/kd相当于这一步骤的阻力。
对于界面化学反应步骤,反应速率常数的倒数l/k,相当于化学反应步骤的
阻力。
对于任意一个复杂反应过程,若是由前后相接的步骤串联组成的串联反应,
则总阻力等于各步骤阻力之和。
若任意一个复杂反应包括两个或多个平行的途径组成的步骤,则这一步骤阻
力的倒数等于两个平行反应阻力倒数之和。
七、反应速率的限制性环节
在串联反应中,如某一步骤的阻力比其他步骤的阻力大得多,则整个反应的
速率就基本上由这一步骤决定——反应速率的控速环节和限制性环节或步骤。
在平行反应中,若某一途径的阻力比其他途径小得多,反应将优先以这一途
径进行。
八、稳态或准稳态处理方法
对不存在或找不出唯一的限制性环节的反应过程,常用准稳态处理方法。
稳态——对于串联反应,经历一段时间后,其各步骤的速率经相互调整,达
到速率相等。
此时反应的中间产物及反应体系不同位置上的浓度相对稳定。
准稳态处理方法——实际上稳态不存在,各个步骤速率只是近似相等,称为
准稳态。
在稳态或准稳态处理方法中,各步骤的阻力都不能忽略。
串联反应中总的阻力等于各步骤阻力之和。总反应的速率等于达稳态或准稳态时各步骤的速率。
第十三章 气(液)/固相反应动力学
13.1 气(液)/固相反应动力学基础
13.1.1 区域化学反应速率变化特征
一、收缩未反应核模型(液)—固反应通式: 完整的气
aA(s)+ bB(g, l)= eE(s)+ dD(g, l)13-1) 收缩未反应核模型(图
→ 反应物A为致密的固体;
→ A(s)的外层生成一层产物E(s),E(s)表面有一边界层; → 最外面为反应物B和生成物D的气流或液流。
→ 化学反应由固体表面向内逐渐进行,反应物和产物之间有明显的界面;
→ 随着反应的进行,产物层厚度逐渐增加,而未反应的反应物核心逐渐缩小。
区域化学反应
沿固体内部相界面附近区域发展的化学反应
二、完整的气(液)-固反应步骤
(1)反应物 B(g,l)由流体相中通过边界层向反应固体产物E(s)
表面的扩散——外扩散;
(2)反应物B(g,l)通过固体生成物E(s)向反应界面的扩散——内扩散;
(3)反应物B(g,l)在反应界面上与固体A发生化学反应——界面化学反应;
(4)生成物D由反应界面通过固体产物层向外扩散;
(5)生成物D(g,l)通过边界层向外扩散。
气(液)-固相反应由上述各步骤连续进行的,总的反应速度取决于
最慢的步骤。
界面化学反应的基本步骤:
i)扩散到A表面的B被A吸附 A + B = A·B ii)固相A转变为固相E A·B = E·D iii)D在固体E上解吸 E·D = E + D 步骤i)、iii)称为吸附阶段;步骤ii)通称结晶-化学反应阶段。结晶-化学反应的自催化特征(图13-2)。
→ 诱导期——反应只在固体表面上某些活性点进行,由于新相晶核生成较困难,反应速度增加很缓慢;
→ 加速期——新相晶核较大量生成以后,在晶核上继续生长较容易;由于晶体不断长大,表面积相应增加 → 反应速度随着时间而加速;
→ 减速期——反应后期,相界面合拢,进一步的反应导致反应面积缩小,反应速度逐渐变慢。
13.1.2 反应总动力学方程式及控制步骤
一、反应总动力学方程式
步骤
1:浸出剂在水溶液中的扩散
设扩散边界层内浸出剂的浓度梯度为常数,则通过边界层的扩散速度为:
或: D1——浸出剂在水溶液中的扩散系数; δ1——扩散边界层的有效厚度。
步骤
2:浸出剂通过固体产物层的扩散
设浸出剂在固膜中的浓度梯度为常数,则浸出剂通过固体产物层的扩散速度为:
D2 —— 浸出剂在固膜中的扩散系数; dC/dr—— 浸出剂在固膜中的浓度梯度; C'S —— 浸出剂在反应界面上的浓度。或改写成:
步骤
3:界面化学反应
假设正、逆反应均为一级反应,则界面化学反应的速率可表示为:
或:
k+、k-——分别为正反应和逆反应的速度常数; C'(D)S——可溶性生成物(D)在反应区的浓度。
步骤
4:可溶性生成物(D)通过固膜的扩散
设可溶性生成物(D)在固膜中的浓度梯度为常数,则D通过固膜的扩散速度为:
C(D)S——可溶性生成物(D)在矿物粒表 面的浓度; D'2——可溶性生成物(D)在固膜内扩散 系数。
将D通过固膜的扩散速度换算为按浸出剂摩尔数计算的扩散速度:
β——生成1摩尔D物质消耗的浸出剂摩尔数。或改写成:
步骤
5:可溶性生成物(D)在水溶液中的扩散
设扩散边界层内可溶性生成物(D)的浓度梯度为常数,则D在水溶液中的扩散速度为:
C(D)O——生成物(D)在水溶液中的浓度; D'1——生成物(D)在水溶液中的扩散系数; δ'1——生成物(D)的扩散层厚度。
将D在水溶液中的扩散速度换算为按浸出剂摩尔数计算的扩散速度:
β——生成1摩尔D物质消耗的浸出剂摩尔数。或改写成:
二、反应的控制步骤
浸出速度表达式(式13-6)中的分母项可视为反应的总阻力。
总阻力为各个步骤的阻力之和。
浸出剂外扩散阻力 = δ1/D1 浸出剂内扩散阻力 = δ2/D2 化学反应阻力 = 1/k+ 生成物外扩散阻力 = δ2/D'2 生成物内扩散阻力 = δ1/D'1
当反应平衡常数很大,即反应基本上不可逆时,
k+>> k-(式13-6)可简化为:
→ 在此情况下,反应速度决定于浸出剂的内扩散和外扩散阻力,以及化学反应的阻力,而生成物的向外扩散对浸出过程的速度影响可忽略不计。
浸出速度决定于其中最慢的步骤
→ 当外扩散步骤最慢时,浸出总速度决定于 外扩散步骤:
→ 当化学反应步骤最慢时,总速度决定于化学 反应速度:
不论哪一个步骤成为控制步骤,浸出速度近似等于溶液中浸出剂的
浓度C0除以该控制步骤的阻力。
13.1.3 影响气(液)/固相反应的因素
一、搅拌速度
液(气)-固反应中,当流体的流速低时,过程常受到穿过边界层的扩
散控制。
提高搅拌速度可使边界层厚度减小,扩散加快 → 化学反应速度加
快。
进一步加强搅拌时,扩散速度逐渐增加超过化学反应速度后,过程
受到化学反应步骤控制 → 不再与搅拌有关。实例:锌的酸溶过程(图13-3)。
二、反应物浓度或分压
1、反应气体分压对反应速率的影响
/固反应速率遵循如下关系:
一般情况下,气 v = kPn P ——反应气体的分压; n、k ——常数。I:n = 1
情形
如硅和铁的氯化(图13-
4、13-5),反应分两步进行: 硅: Si + Cl2 → SiCl2 SiCl2 + Cl2 → SiCl4 铁: Fe + Cl2 → FeCl2 2FeCl2 + Cl2 → Fe2Cl6
II:n = 0.5~0.7
情形
如碳的氧化(C→CO)及钨、钼和钽的氯化(图13-
6、图13-7)II,速度控制步骤一般是气体分子的解离:
对于情形 G2 → 2G 随后的固体与单原子气体的反应是快速步骤。→ 单原子气体的浓度:[G] = K0.5[G2]0.5 → 反应速度: v = P0.5
反应速度与气体分压的关系可随温度而变化。例如 Si + 2F2 → SiF4(图13-8)在120℃时,v = kP 在170~ 600℃时,v = kP0.6
2、反应剂浓度对反应机理的影响
溶液浓度低时,反应剂向固体表面的扩散速度很小,
→ 扩散为速度控制步骤,→ 反应速度受搅拌的影响很大; 高浓度时,扩散速度超过化学反应速度,
→ 过程为化学反应控制,→ 反应速度与搅拌无关。
实例:氧化铜在硫酸中的溶解(图13-9)
3、反应剂浓度对表观反应级数的影响
三、温度
反应速率常数与温度的关系——Arrhenius公式:
k = A·exp(– E/RT)(式13-11)lnk = lnA – E/RT(式13-12)k——反应速率常数;A——频率因数; E——反应的活化能;R——气体常数。
活化能越大,由于温度变化引起的速率常数变化越大。
速率常数的大小取决于E、A和T三个因素。
反应速率的大小取决于k、C(浓度)和反应级数n。
由lnk-1/T直线的斜率可计算活化能E值;
由lnk-1/T直线的截距可求出频率因数A的值。活化能——一般分子变为活化分子所需的最小能量。
可根据活化能判断反应过程的控制步骤:
→ 扩散步骤控制时,活化能通常小于10 kJmol-1; → 界面化学反应控制时,活化能通常大于40 kJmol-1; → 混合控制时,活化能一般为:10~40 kJmol-1。
许多反应过程在低温下为化学反应控制,在高温下则为扩散控制。
如:硅的氯化过程(图13-11)
→ 化学反应的活化能较大,温度升高时化学反应的速 度增加得更快而最终超过扩散速度。
某些过程lnk-1/T直线在低温下的斜率较在高温下小。
如:钽的氯化反应(图13-12)在370℃以下的活化能为84 kJmol-1; 在370-450℃活化能为121 kJmol-1。→ 化学反应的机理发生了变化。低温氯化产物为TaCl4,高温氯化产物为TaCl3。当液体或气体的流速较快时,外扩散通常不是限制性步骤;
当温度较高、化学反应速度快、产物层较厚、产物较致密时,内扩
散速度慢而成为限制性环节
——反应受内扩散控制(反应处于扩散区);
当温度较低、产物疏松时,内扩散速度快,结晶化学反应可能成为
限制性环节
——反应受动力学控制(反应处于动力学区)。
四、固体性质与外界手段 ——如表面性质 固体性质
大多数硫化矿对水的湿润性不好 → 在浸出、吸附等过程中,反应剂在固体表面的吸附性差。
→ 加入表面活性剂等(如木质素磺酸钠)改善 其湿润性。物理杂质
如黄铁矿的化学活性质差,但在浸出时可与主金属矿(重金属硫化矿)接触构成腐蚀微电池而促进其溶解。
→ 浸出黄铜矿时加入碳粒,促进铜的浸出(图 13-13)。
化学杂质
化学杂质的存在通常会导致其化学活性的提高。
如:铁闪锌矿(闪锌矿晶格中~10%的锌被铁取代)在硫酸高铁溶液中的浸出(图13-14)。
晶体缺陷(空位、间隙原子、位错、晶格畸变等)
→ 晶体缺的存在通常会导致其化学活性的提高。
如:在H2SO4溶液中使用K2Cr2O7浸出黄铜矿的速度常数与晶体中位错缺陷密度有关(图13-15)。→ 产生晶体缺陷的手段
冲击波、静压力、高能球磨——机械活化;
添加杂质化合物使晶格受到干扰破坏;
使用化学方法将晶格中的某些元素除去。
催化剂
作用——改变反应途径,使反应沿更易于发生的途径 进行。硫化锌精矿在硫酸溶液中的氧化浸出
→ 氧气氧化浸出
2ZnS + O2 + 2H+ = Zn2+ + S + H2O 反应条件:~200℃,氧分压 1MPa以上。→ 使用硝酸作催化剂浸出
3ZnS + 2HNO3 + 6H+ = 3Zn2+ + 3S + 2NO(g)+ 4H2O 2NO(g)+ O2 = 2NO2(g)3NO2(g)+ H2O = 2HNO3 + NO(g)反应条件:~100℃,氧分压~0.2MPa。
变价金属离子的自催化效应
→ 有氧存在条件下铜在稀硫酸溶液中的溶解 Cu + 2H+ + 0.5O2 = Cu2+ + H2O 生成的Cu2+与金属铜作用生成Cu+: Cu2+ + Cu = 2Cu+ Cu+又迅速氧化而再生成Cu2+:
2Cu+ + 2H+ + 0.5O2 = 2Cu2+ + H2O
铜在稀硫酸溶液中的溶解速度不断增大(图13-16)。→ 黄铜矿在氨/硫酸铵溶液中的浸出(图13-17)
13.2 化学反应控制
一个致密固体颗粒,表面各处化学活性相同。与气体或液体发生反应时,化
学反应的速度为: rC=KSCn
rC ——化学反应(如浸出焙烧、还原等)速度; k ——表面化学反应速度; S ——反应界面面积; C ——反应物的浓度; n ——反应级数。
使用(式13-18)的前提条件
→ 反应物固体颗粒为单一粒度
→ 流动相反应剂大大过量——浓度可视为不变
→ 固体颗粒为致密球形,且在各方向上的化学性质相同。立方体的固体颗粒
用立方体边长的一半0.5a0代替(式13-18)中的r0。一般情形:
1-(1-R)1/n=Kt
→ 对于三维的情况,n = 3; → 对于二维的情况,n = 2;
→ 对于三个维度方向上性质有一定差异的情况(如椭球体),n = 2~3。
应用实例
Na2CO3溶液浸出白钨矿
→ 粒度对浸出分数的影响(图13-18)→ 温度对浸出分数的影响(图 13-19)
→ 不同粒度时的1-(1-R)1/3-t关系图(图13-20)→ 不同温度时的1-(1-R)1/3-t关系图(图13-21)
求得相应条件下的综合速度常数K。→ 表观速度常数与粒度倒数的关系(图13-22)→ lnK-1/T 图,即 Arrhenius图(图13-23)
表观活化能为69.9kJmol-1。
对于多数浸出反应,表面化学反应控制时表观活化 能值约为30~85
kJmol-1。
黄铁矿热分解反应动力学(图13-24)
MnCO3热分解反应动力学(图13-25)
13.3 外扩散控制
13.4 内扩散控制
硫酸高铁浸出黄铜矿的动力学曲线(图13-26)。
→ 过程受通过产物硫层的扩散控制。
扩散控制时,浸出反应的表观活化能一般为8~30 kJ·mol–1。
若使用硫酸高铁浸出硫化矿,生成的元素硫结构致密、构成扩散的阻滞膜,
使浸出受到扩散控制;
当使用氯化高铁浸出硫化矿时,生成的元素硫结构疏松多孔,浸出大多受到
表面化学反应控制。
13.5 混合控制
当
k ≈ D2时,过程受固相内扩散和化学反应混合控制:
反应时间加合定律
当气(液)-固反应受气(液)体通过边界层的外扩散步骤、气(液)体通过固体产物层的内扩散步骤以及界面化学反应步骤混合控制时,达到某一转化率R所需时间等于该反应分别只受上述各步骤单独控制时,达到相同转化率所需反应时间之和。当
k ≈ D2 ≈ D1时,过程受通过边界层的外扩散、固相内扩散和界面化学反应混合控制时:
第十四章 液(气)/液相反应动力学
一、双膜理论
A、B是两个不相混合的流动相。
A相内反应物浓度为CA;在相界面上,浓度下降为C*A。
A相内边界层的厚度为δ1,扩散系数为D1。
相界面上生成物的浓度为C*B;B相内,浓度下降到CB。
B相内边界层的厚度为δ2,扩散系数为D2。整个液(气)/液反应过程包括由三个连续的步骤:
→ 反应物由A相本体向相界面的扩散 → 界面化学反应
→ 生成物由相界面向B相本体的扩散
二、反应物扩散与界面化学反应混合控制
三、产物扩散与界面化学反应混合控制 四、三个步骤混合控制
五、镍锍的选择性氧化
δN;
熔池内原子由内部向表面扩散,在接近表面时有一浓度边界层
O2及SO2气体; 熔池表面之上有
D气 很大 炉气处于氧气流吹动之下,气相浓度边界层很薄,气相扩散系数
→ 气相浓度边界层中的扩散不会构成反应的限制 性环节。在液
/气界面上发生镍锍的氧化反应
高温下界面化学反应速度很快,速率常数k很大 → 界面化学反应亦不构成反应的限制性环节。
当镍锍氧化反应受熔池内反应物[S]的传质步骤控制时,反应的总速率为:
A——熔池表面面积;
C[S]——熔池内部的[S]浓度;
C*[S]——熔池表面与SO2及O2平衡的[S]浓度; β液——液相传质系数
用质量%表示[S]的浓度时:
或改写成:
[%S] ——熔池内部S浓度(%);
[%S]*——熔池表面与SO2及O2平衡时S的浓度,%; V ——熔池(镍锍)体积; ρ ——镍锍密度; W ——镍锍重量。
第十五章 结晶过程
12.1 新相成核
沉淀与结晶
沉淀——一般指向溶液中加入试剂使溶液中的组分与试剂结合形成难溶化
合物析出。如:
锌浸出液的净化除铁——加入锌焙砂中和游离酸导致使锌浸出液的pH值上
升,因溶液中Fe3+和OH-离子积超过溶度积而将铁以Fe(OH)3形式沉淀出来。
钨酸钠溶液的脱磷与脱砷——向钨酸钠溶液中加入MgCl2溶液,使杂质磷、
砷酸根离子以镁盐沉淀形式除去。
镍溶液的脱铜——向镍溶液中加入S2-离子使铜离子以溶度积很小的硫化
铜形式沉淀除去。
以沉淀形式制取主产品——向稀土的氯化物溶液中加入草酸根离子,沉淀得
到稀土草酸盐产品。
结晶——一般指通过浓缩、改变温度等条件使溶液过饱和而结晶析出。
从(NH4)2WO4溶液制备仲钨酸铵:
由于温度升高,溶液中的游离氨不断挥发导致pH下降,水分的挥发使溶液浓度上升,从而仲钨酸铵不断结晶出来。铝酸钠溶液的分解过程:
高浓度溶液经稀释后,碱度下降,对氢氧化铝饱和;进一步降低体系温度,过饱和度大大增加,析出氢氧化铝。
沉淀与结晶的本质:
因溶液过饱和,溶质以固体形态析出。
一、过饱和溶液
溶液过饱和的原因——微细颗粒的溶解度大于大颗粒的溶解度。
液滴的饱和蒸汽压与液面曲率半径的关系:
σ ——液滴的表面张力; M ——液滴的摩尔质量; ρ ——液滴的密度; r1, r2 ——液滴的半径
从饱和蒸气中产生液滴的凝结过程
开始凝结出的液滴很小,其蒸汽压及化学势都很大,与正常饱和蒸气不平衡 → 正常饱和蒸气对微小液滴不饱和。→ 微小液滴将蒸发消失。
→ 要使蒸汽凝结析出,必须使蒸汽过饱和。
从液体中产生气泡的沸腾或气化过程
→ 开始产生的气泡很小,而小气泡凹面的饱和蒸气压比平面为小。→ 要使气泡从均相流体中开始形成长大并逸出,必须使微小气泡内的饱和蒸气压与外压相等。
体系温度应高于正常沸点(过热)。物质的蒸气压与其浓度的关系——亨利定律:
固体颗粒或液滴的溶解度与其半径的关系:
微小固体颗粒或液滴的溶解度较大颗粒的大。
在正常饱和溶液条件下不能结晶,只有溶液过饱和时才可。
从过饱和溶液中结晶须首先形成核心——成核。
均相成核——反应产物在均匀相内成核。
异相成核——以溶液中的夹杂物颗粒或其他固相表面(如容器的表面等)为
结晶的核心。
当溶液的过饱和率小时,以异相成核为主;
随着过饱和率增加,均相成核增加,逐渐变为以均相成核为主。
二、均相成核
三、异相成核
溶质结晶时,也可将溶液中的夹杂物或其它固相表面为基底形成核心,此时
结晶过程所需的表面能远比自动成核小。→ 即使过饱和率较小也能形核、结晶。异相成核的难易程度主要取决于下列因素:
→ 夹杂物粒度的大小
→ 基底晶格与结晶物晶格的相容性
两者晶体组成、结构越相近,异相成核越容易。
→ 加入结晶物晶体作为成核的基底是最理想的。
如氧化铝生产中分解拜耳法溶液制备Al(OH)3。
12.2 晶粒的长大
溶质分子(或离子)的结晶过程:
1)通过对流、扩散到达晶体表面; 2)在晶体表面吸附;
3)吸附分子或离子在表面迁移; 4)结合进入晶格,晶粒长大。
结晶生长的速度决定于其中最慢的步骤。
步骤1)最慢——传质控制; 步骤2)或3)、4)最慢——界面生长控制。
当粒度小于~5μm时,搅拌过程中溶液与晶体表面的相对速度很小 → 长
大速度往往与搅拌速度几乎无关。
扩散控制时,影响结晶速度的主要因素
→ 绝对过饱和度,即过饱和浓度S与饱和浓度S0之差 → 扩散系数D → 结晶温度T
这些参数增加时,结晶速度随之增加。界面生长控制的主要影响因素
→ 结晶温度:温度升高,生长速度增加;
→ 相对过饱和度γ(=S/S0): γ增加,生长速度增加。
当最慢过程为表面吸附时,长大速度∝ γ;
当界面螺旋生长过程最慢时,长大速度∝ γ2。
12.3 结晶过程的综合速率
假设
→ 过饱溶液中共含有待结晶溶质质量为m0; → 经 t 时刻后有分数 R 转变为固相;
→ 晶体粒子的生长为各向同性,即生成的晶体呈球形。
在dt 时间内形成晶核数Nt 与溶液中尚存的溶质(1-R)m0 以及形成新相的速率 I 成正比:
在dt时间内形成的晶体的质量为:
mcry —— 单个晶粒的质量。
方程在推导时认为I 和v 为常数; Avrami
随着结晶过程的进行,溶液的过饱和度不断下降,成核及晶体生长的推动力都在
下降 → I 和v 不为常数: R = 1-exp(-ktn)(式2-17)k——与新相成核速率及晶体生长速度有关的系数; n— Avrami指数。由式
12-16或12-17得出R-t 关系的S 形曲线(图12-2)。→ 初期(诱导期):可供生长的界面较小,转化速率很低。
→ 中期(快速增长期):一方面原有晶核已获得不同程度的长大;另一方面又不断有新的晶核生成。界面面积显著增大,使结晶速率出现转折。
→ 后期(减慢期):可供用以构筑晶体的溶质已消耗殆尽,速度逐渐减慢而趋于0。
12.4 影响产物化学组成、粒度及形貌的因素
一、产物化学组成的影响因素