材料测试分析复习题_材料分析与测试复习题

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材料测试分析复习题：

1、二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?

答：

相同处：均利用电子信号的强弱来行成形貌衬度

不同处：

1、背散射电子是在一个较大的作用体积内被入射电子激发出来的，成像单元较大，因而分辨率较二次电子像低。

2、背散射电子能量较高，以直线逸出，因而样品背部的电子无法被检测到，成一片阴影，衬度较大，无法分析细节；利用二次电子作形貌分析时，可以利用在检测器收集光栅上加上正电压来吸收较低能量的二次电子，使样品背部及凹坑等处逸出的电子以弧线状运动轨迹被吸收，因而使图像层次增加，细节清晰。