《定位X线投影测量学》实验报告1017_地图投影实验报告
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实验一X线头影测量标志点和平面
【目的要求】
了解X线头颅侧位片的描图方法。熟悉常用标志点的定位，测量平面及其意义。
【实验内容】
l．示教x线头测量常用标志点定位，头影图描绘，常用平面。
2．学生练习描记一张x线头颅侧位片，完成头影图描绘、标志点、平面的确定。
【实验器材】
头颅侧位片、X观片灯、描图纸、3H硬质铅笔、橡皮、三角尺、量角器等。
【方法和步骤】
使用X线投影测量技术进行面部软硬组织结构进行研究。这种方法不但显示了面部的形态特征，还能揭示覆盖软组织与其深部牙，骨骼的相互关系。
一、手绘法描图头颅侧位片：
（一）描图示教
1.头颅侧位片的描图：在暗视野环境中，于观片灯上，用尖细的（笔尖细度小于0.5mm）
较硬质铅笔（3 H）在透明描图纸上绘制，侧位片的描绘应包括软硬组织侧貌、上、下颌轮廓、颅底轮廓（蝶鞍）、眼下缘、翼上颌裂、鼻底、腭顶、上下颌第一恒磨牙、中切牙等。
2.在头侧位片描图上定出常用的标志点
（1）颅部标志点：
鼻根点(N)：正中矢状平面上鼻额缝的最前点。
蝶鞍点(S)：蝶鞍影像的中心。
耳点(P)：外耳道之最上点。
颅底点(Ba)：正中矢状面上枕骨大孔前缘之中点。
Bolton点：枕骨髁突后切迹的最凹点。
（2）上颌标志点：
眶点(Or)：眶下缘最低点，通常取两侧眶点影像之中点。
前鼻棘点(ANS)：前鼻棘之尖。
后鼻棘点(PNS)：硬腭后部骨棘之尖。
翼上颌裂点(Ptm)：翼上颌裂轮廓之最下点。在x片上象一倒挂的泪珠。
上齿槽座点(A)：前鼻棘与上齿槽缘点间上齿槽突前部外形最凹点。
上齿槽缘点(SPr)：上中切牙间齿槽突的最前下点。
上中切牙点(UI)：上中切牙切端最前点。
（3）下颌标志点：
髁顶点(Co)：髁突的最上点。
关节点(Ar)：为下颌升支后缘与颅底外缘X线影像之交点。
下颌角点(Go)：位于下颌下缘与升支后缘交界处。常通过下颌平面和下颌支平面交角的角平分线与下颌角的交点来确定。
下齿槽座点(B)：下颌骨联合前面下齿槽座的最凹点。
下齿槽缘点(Id)：下齿槽突之最前上点。
下切牙点(L i)：下中切牙切端最前点。
颏前点(Po)：颏部的最前点。
颏下点(Me)：颏部之最下点。
颏顶点(Gn)：颏前点与颏下点之中点。
（4）软组织侧貌标志点：
额点（G）：额部最突点。
N′点：前颅底平面S-N与软组织侧貌轮廓的交点。
软组织鼻根点（Ns）鼻额缝表面所覆盖之软组织的最凹点。
鼻顶点（Prn）：鼻部软组织之最突点。
上唇突点（UL）：上唇之最突点。
下唇突点(LL)：下唇之最突点。
下唇凹点（B′）：颏唇沟之最凹点。代表下唇之基底部。
软组织颏前点（Pos）：颏部软组织的最前点。代表软组织颏部的位置。
软组织颏顶点（Gs）：蝶鞍点与颏顶点间连线（S-Gn）延长线与颏部组织外形轮廓之交点。
软组织颏下点（Me）：软组织颏部最低点。
3.在头侧位片描图上定出常用的平面：
(1)基准平面：基准平面是在头影测量中作为相对稳定的平面。由此平面与各测量标志
点与其他测量平面构成角度、线距及线距比测量项目。目前最常用的基准平面为前颅底平面、眼耳平面和Bolton平面。
1）前颅底平面（SN）：即蝶鞍点与鼻根点N间之连线。位于头颅的正中矢状平面上，代表前颅底的前后范围。由于这一平面在生长发育过程中，无论是生长方向还是生长速度均具有相对的稳定性，因而常作为其他各结构对颅底关系的定位平面。
2）眼耳平面（FH）：这是人类学上的一个定位平面。由耳点P与眶点Or连线构成。
大部分个体在正常头位时，该平面与地面平行。
3）Bolton 平面：由Bolton点与鼻根点N连线构成。多用作重叠影图的基准平面。
(2)测量平面
1)腭平面（ANS-PNS）：前后鼻棘点的连线。
2)颅底平面（Ba-N）：颅底点与鼻根之连线。该平面将头颅划分成颅部与颌面部两部
分。
3)牙合平面（OP）：牙合平面一般有两种确定方法。一种是第一恒磨牙的咬牙合中点与上下
中切牙切缘点间连线的中点的连线； 另一种能够使自然的或称功能的牙合平面，由均分后牙牙合接触点的连线构成，通常使用切牙的任何标志点。
4)下颌平面（MP）：下颌平面的确定方法有三种：
① 通过颏下缘下点与下颌角下缘相切的线条。
② 下颌下缘最低部的切线。
③ 下颌角点与颏顶点间的连线。（Go-Gn）。
5)下颌升支平面（RP）：下颌升支及髁突后缘的切线。若X片上髁突影像不清楚，也
可以关节点与下颌角后缘的切线代之。
6)面平面（NP）：由鼻根点N与颏前点，Po间连线构成。
7)NA平面：鼻根点N至上齿槽座点A连线。
8)上下齿槽座平面（AB）：上、下齿槽座间连线。
9)AP平面；上齿槽座点A与颏前点Po连线。
10)Y轴（Y axis）：蝶鞍点S与颏前点Gn之连线。
（3）软组织测量平面
1）审美平面（E plane）：鼻顶点Pm至软组织。
2）H平面：上唇突点UL至软组织颏前点Pos的连线。
【注意事项】
1．解剖标志定位要准确。
2．描绘图的点线必须细小精确。
【实验报告与评定】
评定学生头影测量描图的标志点、常用测量平面的正确性。
实验二X线头影测量项目
【目的要求】
了解X线头颅侧位片的描图方法。熟悉常用测量项目的组成及其意义。
【实验内容】
l．示教x线头测量常用测量项目。
2．学生练习描记一张x线头颅侧位片，完成头影图描绘、常用角度和线距的测量。
【实验器材】
头颅侧位片、X观片灯、描图纸、3H硬质铅笔、橡皮、三角尺、量角器等。
【方法和步骤】
使用X线投影测量技术进行面部软硬组织结构进行研究。这种方法不但显示了面部的形态特征，还能揭示覆盖软组织与其深部牙，骨骼的相互关系。
常用的测量项目：
1）上齿槽座角（SNA）
前颅底平面与鼻根点和上齿槽座点连线所形成的后下交角。
2）下齿槽座角（SNB）
前颅底平面与鼻根点和下齿槽座点连线所形成的后下交角。
3）上、下齿槽座角(ANB)
为SNA和SNB角之差。
4）面角（Facia1 ang1e）
面平面与FH平面相交的后下交角。(FH－NPog)
5）下颌平面角(MP—FH)
下颌平面与FH平面的交角。
6）上中切牙一前颅底平面角(UI—SN)
上中切牙长轴与前颅底平面的后下交角。
7）下中切牙一下颌平面角(LI—MP)
下中切牙长轴与下颌平面的后上交角。
8）上、下中切牙角(UI—LI)
上、下中切牙长轴的交角。
9）上面高(N—ANS)
以FH为参照，N点和ANS点两点间的垂直距离。0）下面高：
以FH为参照，ANS点和Me点两点间的垂直距离。
【注意事项】
1．解剖标志定位要准确。
2．描绘图的点线必须细小精确。
【实验报告与评定】
评定学生头影测量描图的常用项目的正确性。
实验三常用X线头影测量分析法
【目的要求】
了解X线头颅侧位片的描图方法。熟悉常用测量项目的组成及其意义。
【实验内容】
l．示教x线头测量常用测量分析法。
2．学生练习描记一张x线头颅侧位片，完成头影图描绘、常用分析法分析。
【实验器材】
头颅侧位片、X观片灯、描图纸、3H硬质铅笔、橡皮、三角尺、量角器等。
【方法和步骤】
使用X线投影测量技术进行面部软硬组织结构进行研究。这种方法不但显示了面部的形态特征，还能揭示覆盖软组织与其深部牙，骨骼的相互关系。
1.Downs分析法
2.Tweed分析法
3.Wits分析法
4.北京大学口腔正畸科临床综合分析法
【注意事项】
1．解剖标志定位要准确。
2．各分析法对定点的特殊要求。
【实验报告与评定】
评定学生头影测量描图的常用分析法分析是否正确。
