粉体总结_粉体工程总结

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1、等面积球当量径—与颗粒同表面积的球的直径；有助于描述粉末的成型过程及烧结过程，较适用于无气孔和轻微粗糙度表面的颗粒体系

2、由不同大小的颗粒组成的集合体由不同大小的颗粒组成的集合体——多分散系统

3、体是研究微小颗粒的集合体。当集合体颗粒大小相等或粉体是研究微小颗粒的集合体。当集合体颗粒大小相等或近似相等——单分散系统

4、目：系指在筛面的25.4mm（1英寸）长度上开有的孔数。20－120目（900－125um)[目数/2.5]2=孔数/cm25、TEM观察粉体的特点：能给出不同等效原理（如等面积圆、等效短径等）的粒度分布。能观察颗粒形貌。能直接观察颗粒分散状况、分体样品的大致粒度范围、是否存在低含量的大颗粒或小颗粒情况等等。

6、频率分布曲线上的最高点是频率的极大值，表示最多数量的颗粒，其对应尺寸称为最多数径Dm（或众数直径，（或众数直径，modal diamater），其数量的多少可计算其面积。若曲线是关于Dm对称，即符合正态分布(normal distribution),此时，Dm= 平均粒径 =Dmed（中位径）median diameter7、累积分布曲线与频率分布曲线互为积分与微商的关系，若取同一横坐标，则累积分布曲线上各点斜率实际上，累积分布曲线与频率分布曲线互为积分与微商的关系，若取同一横坐标，则累积分布曲线上各点斜率dR/dD，即为频率分布曲线纵坐标上相应各点之值。，即为频率分布曲线纵坐标相应各点之值。频率分布曲线上任一点的纵坐标表示某粒径频率分布曲线上任一点的纵坐标表示某粒径D为中心的颗粒在dD范围内占物料百分数为范围内占物料百分数为dR，在频率分布曲线之下，粒径为，在频率分布曲线之下，粒径为D以左所包含的面积占曲线以下所包含面积百分比即为累积百分数以左所包含的面积占曲线以下所包含面积百分比即为累积百分数R%。

8、累积分布——反映粒度变化不敏感，要求出斜率→粒度变化，斜率大，粒度变化大；但数量上反映较为明显，从纵坐标可以看出，计算方便，工业生产常用。频率分布——反映频率变化，是动态变化，颗粒组成的变化，但不表示数量（各粒级数量的多少要计算面积）。研究工作中常用的方法。

9、D50：一个样品的累计粒度分布百分数达到50%时所对应的粒径。它的物理意义是粒径大于它的颗粒占50%，小于它的颗粒也占50%，D50也叫中位径或中值粒径。D50常用来表示粉体的平均粒度。D97：一个样品的累计粒度分布数达到97%时所对应的粒径。它的物理意义是粒径小于它的的颗粒占97%。D97常用来表示粉体粗端的粒度指标。中位径Dmed10、定量描述粒子几何形状的方法：形状指数（shape index）、形状系数（shape factor）和粗糙度系数（roughne factorfactor）。单颗粒外形的几何量的各种无因次组合称为形状指数;形状系数——在表示颗粒群性质和现象的函数关系中，把与颗粒形状有关的因数作为一个系数加以考虑；粗糙度系数反映颗粒表面微观结构

11、用透射电镜可观察纳米粒子平均直径或粒径的分布，可以直接观察颗粒是否团聚，电镜观察法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度．粗颗粒使用光学显微镜，SEM较TEM可观察到更多关于颗粒形状和表面结构信息，立体感强些。X射线是测定晶粒度的最好方法（当颗粒为单晶时，该法测得是颗粒度）对于混合多组分颗粒系统，由于组分密度不同，颗粒形状不同，要测量颗粒的大小电镜是较好的方法。

12、② 颗粒组成（颗粒分布）：•激光法, 光透射：重力沉降 > 1μm，离心沉降 > 0.01μm 13.TEM观察法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。X射线衍射线宽法是测定晶粒度的最好方法。当颗粒为单晶时，该法测得的是颗粒方法。当颗粒为单晶时，该法测得的是颗粒度。当颗粒为多晶时，该法测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度这种测量个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度。这种测量法只适用于晶态的超微粉晶粒度的评估。实验表明晶粒度≤50时测量值与实际值验表明，晶粒度≤50nm时，测量值与实际值相近，反之，测量值往往小于实际值。

13、透气法—不受微观结构变化的影响，由颗粒大小，聚集体状态决定。只反映出外表面积不受微观结构变化的影响，由颗粒大小，聚集体状态决定。只反映出外表面积的大小；

14、BET法—颗粒的总表面积：除包括颗粒大小，聚集体状态外还包括了颗粒的裂纹沟槽聚集体状态外，还包括了颗粒的裂纹，沟槽的内表面，因此其数值较上法大的多

15、比表面积的测定范围约为0.1-1000m2／g，以ZrO2粉料为例，颗粒尺寸测定范围为lnm～l0μm．

16、UFP的制备方法：①长大法或者称化学法或者造粒法，合成法——通过化学反应或物相变化，从物质的原子、离子或分子入手, 经过成核和成长、收集两阶段；使颗粒在控制之下长大到要求的大小，这是使颗粒尺寸由小到大的制备方法——纳米粉体的制备方法

②碎细法或者称粉碎法、机械法——这种方法是通过对粗颗粒的粉碎，使其微细化从而成UFP。这是使颗粒尺寸由大变小的方法。是制备微米级颗粒的传统粉碎法的延伸。颗粒粒径在10～0.1μm范围，以两个数量级范围内的颗粒为对象——微米粉体制备 18单分散颗粒系统，其粒度分布呈正态分布

19振动磨制备的粉体粒度分布较窄、纯度较高物料。振动磨除粉碎效率较高外，另一个优点是物料在磨中翻动，从而使物料不易团聚

20气流粉碎机亦称(高压)气流磨或喷射磨或流能磨，是常用的超细粉碎设备之一。高速气流(300—500m／s)或过热蒸汽(300-400℃)的能量，使颗粒相互产生冲击、碰撞、摩擦而实现超细粉碎的设备。降低入磨粒度，可得到平均粒径1μm的产品。

21、随着颗粒微细化，细小颗粒之间的吸附作用，例如范德华引力、静电力、颗粒表面的水份附着力等；或者由于断裂后在新表面上产生的剩余价键带正或负电荷的结构单元或化学游离基的作用，使小颗粒聚结或附聚而成为大颗粒

22、根据生产工艺的要求，把粉碎产品按某种粒度大小或不同种类颗粒进行分选的操作过程称为分级。方法：干法分级和湿法分级

23、颗粒分级可以避免团聚

24、流体是空气时称为干式分级，利用水或者液体时则称为湿式分级。

25、凡是通过挤压、剪切、摩擦、磨剥、拉伸等作用对固体、液体、气体施加机械能，诱发一系列的物理化学性质的改变，称之力化学，或机械力化学。

26、经粉磨后物料活性有所提高的原因经粉磨后，物料活性有所提高的原因是什么？

答：活性提高的主要因素——无定形化的作用；活性提高的次要因素——颗粒尺寸 变小比表面积增大

27、机械力诱发的一系列变化可用X射线衍射、差热分析、红外光谱、反气相色谱法、溶解速度变化密度变化等进行研究

28、助磨剂一般为表面活性物质，具有降低比表面能和“楔入”粒子裂缝的作用。物料在细磨过程中，粒子逐步细化，比表面积增大，其表面因断键而荷电，粒子相互吸附并出现团聚使粉碎效率下降，加入少量助磨剂可以防止粒子团聚，改善物料，流动性，从而提高 研磨效率，缩短研磨时间。

29、颗粒在比较弱的引力作用下结团——附聚体；颗粒在比较强的化学键作用下结合为整体——聚结体

30、助磨剂作用机理：a.削弱固体颗粒强度——软化剂。裂纹的存在、扩展导致断裂，助磨吸附在裂纹上平衡了裂纹表面的剩余价键及电荷，避免裂纹愈合，提高了物料的易碎性。b.防止颗粒并合聚结——分散剂。平衡了颗粒表面上的剩余价键，使颗粒之间的附聚力得到屏蔽，避免颗粒的聚结,抑制粉碎逆过程，故有利于粉碎过程进行。